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產品型號:HCCT-40H
廠商性質:生產廠家
所在地:北京市
更新日期:2026-08-06
產品簡介:
| 品牌 | 華測 |
|---|
華測儀器HCCT-40H MLCC電容器溫度特性測試平臺
價格僅供參考,如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例,歡迎致電我司技術工程師
HCCT-40H MLCC電容器溫度特性測試平臺由華測儀器生產,系統可根據被測物型號、通道數定制對應測試線,通過軟件校準減小線纜帶來的測量誤差,完成全部陣元電容準確測量。測試時系統可自動識別開路、短路類異常陣元,將測試結果存入對應被測物型號的文件夾。本系統兼顧操作便捷性與數據可追溯性,可滿足研發驗證、產線檢測、故障排查等不同測試場景需求。
產品參數
電容測量范圍:1pF~1μF
測量準度:±0.3%
測試頻率:固定1kHz
測試電平:0.1V~0.3V
測量模式:Cp并聯電容模式,適配電容測量特性
產品功能
多型號/通道數適配功能
針對不同型號、不同通道數被測物(主流 64/80/128 通道,可擴展至 256 通道),支持不同型號測試線切換,切換流程簡單便捷。
校準功能
軟件內置電纜線校準功能,減小測試線自身寄生電容與引線誤差,保障測量準度;支持開短路校準,支持標準電容校準(可選)。
批量測試功能
支持被測物全部陣元批量檢測,單款被測物全自動掃描時長不超過 1 分鐘,測試過程自動化。

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